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Meinungen von Kunden und Journalisten

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David Manners
Editor, Electronics Weekly

News, die aktuell über unseren Ticker laufen



Keysight präsentiert neue leistungsstarke Testplattform für Cybersecurity im Netzwerk
Böblingen, 16. Juli 2026 – Keysight Technologies hat mit dem APS-ONE-400 eine modulare Testplattform für die Cybersecurity im Netzwerk vorgestellt. Diese neue 4x100GE-Plattform steigert die Leistung für Layer-4- bis Layer-7-Datenverkehr, verschlüsselten Datenverkehr und Elephant-Flow-Datenverkehr erheblich – und das alles in einem System mit einer Rack-Einheit (RU). Sie ermöglicht es Herstellern von Netzwerk-Equipment (NEMs), Service-Providern und Betreibern von Rechenzentren, anspruchsvolle Szenarien zu validieren und gleichzeitig die Anforderungen an die Gesamtinfrastruktur zu senken.

Infineon stellt RIC70115 strahlungsgehärteten GaN-HEMT-Treiber für Satelliten- und Raumfahrtanwendungen vor
München, 15 Juli 2026 – Die Infineon Technologies AG stellt den RIC70115 vor, einen strahlungsgehärteten Galliumnitrid-HEMT-Treiber (GaN High-Electron Mobility Transistor), der für Satelliten- und hochzuverlässige Raumfahrtanwendungen entwickelt wurde, bei denen Leistungsumwandlungseffizienz und langfristige Betriebssicherheit kritische Anforderungen darstellen. Der RIC70115 unterstützt sowohl Silizium- (Si) als auch GaN-MOSFET-Designs in Low-Side- und High-Side-Konfigurationen und gibt Entwicklern von Leistungssystemen größere Flexibilität bei der Einführung GaN-basierter Architekturen  in Raumfahrtplattformen, ohne den sicheren Betrieb bei variierenden Vorspannungsbedingungen zu beeinträchtigen. Mit dem weiteren Wachstum der New-Space-Wirtschaft und zunehmender Komplexität und Anzahl von Satellitenkonstellationen steigt die Nachfrage nach strahlungsgehärteten Leistungsbauelementen, die den Übergang von Si zu GaN unterstützen.

Keysight geht die versteckten Kosten bei der Erstellung und Pflege von UI-Tests an
Böblingen, 14. Juli 2026 – Keysight Technologies hat Keysight Eggplant Find by Description vorgestellt, eine Lösung, mit der Entwickler Oberflächenelemente anhand ihrer Beschreibung lokalisieren können, anstatt Screenshots aufzunehmen und abzugleichen. Jeder Test zielt auf ein Element anhand seiner Beschreibung und nicht anhand seines visuellen Erscheinungsbilds ab, sodass er auch bei Neugestaltungen, Änderungen des Designs und Anpassungen der Bildschirmauflösung weiterhin ausgeführt werden kann. Dadurch entfällt die manuelle Neuaufnahme von Screenshots, die bisher Entwicklungsressourcen verschwendet hat.



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